DIO 1000 SFE - Ультразвуковой дефектоскоп

DIO 1000 SFE - Ультразвуковой дефектоскоп

Предзаказ
Рейтинг:

Предзаказ
Предзаказ 162660.00
  • Производитель: STARMANS
  • Код товара: DIO 1000 LF
  • Артикул: 11594

Качество
Доставка
Гарантия
Демонстрация

Ультразвуковой дефектоскоп DIO 1000 SFE для контроля металлов и пластмасс в диапазоне от 1 до 29000 мм, масса 1,38 кг, температура эксплуатации до -20 ºC. Позволяет отображать результаты в виде A, В (RGB, толщина и TOFD) и W-сканов. Возможность подключения ЭМАП.

Ультразвуковой дефектоскоп STARMANS DIO 1000 SFE - высокочастотный дефектоскоп общего назначения премиум класса, сочетающий в себе как традиционный метод выявления дефектов, так и новейшие технологии контроля: ЭМА (бесконтактный метод) и TOFD, с возможностью подключения соответствующих преобразователей и сканеров.

Дефектоскоп DIO 1000 SFE является новой моделью из серии дефектоскопов DIO 1000 от компании "STARMANS electronics, s.r.o." (Чехия) Дефектоскопы этой марки нашли широкое применение по всему миру благодаря инновационным решениям, высочайшей надежности и ценовой доступности относительно конкурентов подобного класса.

Дефектоскоп имеет мощное программно-аппаратное обеспечение, обеспечивающее высокую скорость контроля и интуитивное управление, а режим автокалибровки позволяет значительно сократить процесс настройки.

Ультразвуковой дефектоскоп DIO 1000 SFE работает с любыми отечественными и зарубежными преобразователями.

Дефектоскоп металла DIO 1000 SFE спроектирован настолько компактным и легким, что позволяет работать буквально "с руки" в труднодоступных местах, не стесняя в движениях дефектоскописта.

Электромагнитно акустический метод в дефектоскопе дает возможность бесконтактного контроля исследуемого объекта, для этого вида контроля не играет роль шероховатость поверхности, нет необходимости ее зачищать и использовать контактную жидкость, а так же удобно в использовании для объектов сложных форм.

Встроенный функционал ЭМА активирован в дефектоскопе DIO 100 SFE по умолчанию. ЭМАП применяются для измерения толщины изделий, в том числе покрытых слоем краски или ржавчины с необязательным контактом с поверхностью (зазор до 2 мм). Этот факт также позволяет работать на поверхностях с высокой температурой.

TOFD (дифракционно-временной метод) наиболее достоверный метод контроля, который основан на взаимодействии волн с краями несплошностей. Это взаимодействие приводит к излучению дифракционных волн в широком диапазоне углов. Обнаружение дифракционных волн позволяет установить наличие несплошности.

В сочетании со специальным ручным TOFD-сканером, дефектоскоп DIO 1000 SFE представляет собой мощное и недорогое решение для TOFD контроля сварных швов любого размера и любой сложности.

Основные преимущества метода TOFD от эхо-импульсного метода:

  • TOFD-метод (дифракционно-временной метод) может быть альтернативой радиографическому методу НК;
  • Полная воспроизводимость результатов исследований;
  • Возможность измерение размеров эрозии металла на внутренней поверхности;
  • Более высокая точность при проведении исследований (±1 мм, при повторном проходе ± 0,3 мм);
  • Дефект может быть обнаружен вне зависимости от его пространственного положения;
  • Измерение размеров и положения дефекта не зависит от амплитуды волны, только от времени её прохождения;
  • Сканирование охватывает весь объем шва вдоль одной линии, повышая эффективность и производительность контроля;
  • Возможно документирование и хранение полученных результатов контроля;
  • Внутренние дефекты в шве не вызывают искажения сигнала боковой волны, также не изменяется и сигнал, отраженный от обратной поверхности, для таких дефектов характерно наличие двух дифрагированных сигналов от нижней и верхней частей дефекта;
  • Точечные дефекты, например, пористость, вызывают появление одного или нескольких сигналов между боковой и отраженной от обратной поверхностью волнами. У них отсутствует сигнал от вершины дефекта, а так же не имеется протяженности сигнала;
  • Дефект с выходом на поверхность определяется как прерывание боковой волны, верхняя часть сигнала отсутствует, фиксируется только нижняя.

Дифракционно-временной метод обычно применяется для контроля материалов с низким уровнем затухания и рассеяния волн ультразвука, например, низколегированная и нелегированная углеродистая сталь, алюминий, аустенитная сталь. Для крупнозернистых материалов требуется дополнительная консолидация и обработка информации.

Нет отзывов об этом товаре.

Написать отзыв
Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!

Технические характеристики Ультразвуковой дефектоскоп DIO 1000 SFE:

Производитель STARMANS
Госреестр СИ Да
Контролируемый материал Металл, Пластмасса
Диапазон контроля по толщине 1 — 29000 мм
Диапазон скорости ультразвука, м/с 100 — 15240
Частота, МГц 0.5, 0.6, 1, 1.25, 1.8, 2, 2.5, 4.0, 5, 7, 7.5, 10, 20, 15, 25, 30
Количество каналов 1
Отображение сканов А-скан, В-скан, W-скан
Диапазон регулировки усиления, дБ 0 — 111
Тип дисплея ТФТ
Минимальная рабочая температура эксплуатации, С -20
Тип питания АКБ
Время работы батареи 10 ч
Связь с ПК Да
Размеры 224 × 188 × 34 мм
Вес 1.38 кг

Комплект поставки ультразвукового дефектоскопа DIO 1000 SFE:

  • Электронный блок дефектоскопа со встроенным Li-ion аккумулятором
  • Адаптер питания ( AC 80V~240V 50Hz/60Hz )
  • Кабель LEMO01-LEMO00 - 2 шт.
  • Кабель USB
  • ПО и инструкция по эксплуатации на USB Flash Disk 2GB
  • Защитный чехол
  • Наплечный ремень
  • Свидетельство о поверке
  • Руководство по эксплуатации
  • Кейс для транспортировки и хранения